更新時間：2024-12-31
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MX63和MX63L顯微鏡奧林巴斯顯微鏡系列采用了模塊化設(shè)計，為廣泛的材料學(xué)和工業(yè)應(yīng)用提供了多樣化的解決方案。BX3M改進(jìn)了與奧林巴斯Stream軟件的集成性，從而為常規(guī)顯微鏡檢查和數(shù)碼成像用戶提供了從觀察到報告創(chuàng)建的無縫工作流程。特點(diǎn)模塊化可定制。
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池 |
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MX63和MX63L顯微鏡用于材料學(xué)的配置：
1、BX53M反射和反射/透射觀察BX53M IR觀察BX3M系列有兩種顯微鏡機(jī)架，一種僅用于反射光，一種用于反射光和透射光組合。兩種機(jī)架都可配置手動、編碼或電動部件，并且都配備有ESD防靜電功能。
2、BX53M IR觀察BX3M系列有兩種顯微鏡機(jī)架，一種僅用于反射光，一種用于反射光和透射光組合。兩種機(jī)架都可配置手動、編碼或電動部件，并且都配備有ESD防靜電功能。IR物鏡可用于透過硅材料成像，進(jìn)行半導(dǎo)體檢查和測量。配備了5倍到100倍紅外（IR）物鏡，提供了從可見光波長到近紅外的像差校正。對于高放大倍率的物鏡，配備了LCPLN-IR系列帶校正環(huán)的物鏡，校正由樣品厚度導(dǎo)致的像差。使用一個物鏡即可獲取清晰的圖像
3、BX53M偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像，是地質(zhì)學(xué)家的理想之選。比如礦物鑒定、晶體光學(xué)特性的分析和巖石薄片的鑒定等各種研究，都得益于穩(wěn)定的顯微鏡系統(tǒng)性和精密的光學(xué)系統(tǒng)。
MX63和MX63L顯微鏡系統(tǒng)支持檢測尺寸達(dá)300毫米的晶圓、平板顯示器、印刷電路板以及其他樣品的質(zhì)量。這些符合人體工學(xué)設(shè)計的人性化系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計，可在各種應(yīng)用中實現(xiàn)理想的觀察條件。結(jié)合奧林巴斯Stream圖像分析軟件使用時，從觀察到生成報告的整個檢測流程更簡潔直觀。
滿足電子行業(yè)需求：
應(yīng)用反射光顯微鏡在很多應(yīng)用和行業(yè)中普遍應(yīng)用。以下是采用不同的觀察方法所達(dá)到的一些效果示例。
暗場/MIX、熒光/MIX、投射/MIX、微分干涉、偏光紅外（IR)
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